Description: Das Projekt "Teilprojekt 2.3: Beschreibung des Festigkeits- und Verformungsverhaltens dünner Wafer^Wachstumskern S-PAC - Verbundprojekt 2: Flexible automatisierte Handlings- und Transfersysteme für die Dünnwaferfertigung^Teilprojekt 2.5: Entwicklung von Methoden zur Erhöhung der Bruchsicherheit von Wafern und zur Detektierung festigkeitsrelevanter Materialdefekte, Teilprojekt 2.2: Laseranlagen zum Markieren und zur Erhöhung der Biegefestigkeit in der Waferfertigung" wird/wurde gefördert durch: Bundesministerium für Bildung und Forschung. Es wird/wurde ausgeführt durch: SITEC Industrietechnologie GmbH.
SupportProgram
Origins: /Bund/UBA/UFORDAT
Tags: Photovoltaik ? Tracer ? Messtechnik ? Qualitätsmanagement ? Automatisierung ? Gütekriterien ? Modul ? Produktionstechnik ? Verfahrenstechnik ? MSR-Technik ? Thermisches Verfahren ? Verkehrssystem ? Versuchsanlage ? Effizienztechnologie ? Belastungsanalyse ? Biegefestigkeit ? Dünnschichtmodul [Solarzelle] ? Haltbarkeit ? Laseranwendung ? Sächsisches Photovoltaik-Automatisierungscluster (S-PAC) ? Temperaturerhöhung ? Wafertracking ?
Region: Sachsen
Bounding boxes: 10.40664° .. 10.40664° x 49.29433° .. 49.29433°
License: cc-by-nc-nd/4.0
Language: Deutsch
Time ranges: 2011-02-01 - 2014-01-31
Webseite zum Förderprojekt
https://www.tib.eu/de/filter?repno=03WKBW02B (Webseite)Accessed 1 times.