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Q-Wafer: Entwicklung einer inline-fähigen Qualitätsbewertung für multikristalline Silizium-Wafer für die Solarzellenproduktion- Teilvorhaben PV Crystalox, Q-Wafer: Verfahrensentwicklung: Messtechnik und Methodik zur Extraktion und Bewertung von Qualitätsmerkmalen und Anwendung auf hocheffiziente PERC-Solarzellen

Types:
SupportProgram

Tags: Silizium ? Solarzelle ? Bildverarbeitung ? Materialprüfung ? Messtechnik ? Spektralanalyse ? Prognose ? Qualitätsmanagement ? Bewertungskriterium ? Messverfahren ? Produktionstechnik ? Prüfverfahren ? Schnelltest ? Verfahrenstechnik ? Vergleichsanalyse ? Verunreinigung ? Datenbank ? Datenerhebung ? Standardisierung ? Physikalische Größe ? Effizienzsteigerung ? Referenzwert ? Modul ? Auswertungsverfahren ? Inlineverfahren ? Photolumineszenz ? Spektrum ?

Region: Baden-Württemberg

Bounding boxes: 7.511871829803615° .. 10.495748779340031° x 47.53236022054888° .. 49.79147764979833°

License: Creative Commons Namensnennung-keine Bearbeitung-Nichtkommerziell 4.0

Language: Deutsch

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Last harvest: 07.05.2026 00:27

Time ranges: 2011-08-01 - 2015-12-31

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