Description: Die Ziele, die Hennecke in diesem Projekt verfolgt sind sehr stark orientiert an Verbesserungen und Neuentwicklungen der Waferinspektionsautomaten, die in der Folge einen Vorsprung vor den Mitbewerbern am Markt und erhöhte Chancen im Verkauf der Anlagen bedeuten. Insbesondere ein Waferratingverfahren und eine inline-Kornstrukturanalyse können für die Hennecke-Messtechnik ein Alleinstellungsmerkmal und Verkaufsargument sein.
SupportProgram
Origins: /Bund/UBA/UFORDAT
Tags: Überwachungs- und Kontrollinstrumente ? Silizium ? Material ? Korrelationsanalyse ? Materialprüfung ? Messtechnik ? Verfahrensoptimierung ? Automatisierung ? Bewertungsverfahren ? Industrieproduktion ? Korngröße ? Kristallisation ? Messverfahren ? Prüfverfahren ? Qualitative Analyse ? Schnelltest ? Produktbewertung ? Betriebsparameter ? Lebensdauer [Technik] ? Monokristalline Solarzelle ? Polykristalline Solarzelle ? Werkstoffkunde ?
Region: Nordrhein-Westfalen
Bounding boxes: 6.76339° .. 6.76339° x 51.21895° .. 51.21895°
License: cc-by-nc-nd/4.0
Language: Deutsch
Time ranges: 2017-01-01 - 2019-12-31
Webseite zum Förderprojekt
https://www.tib.eu/de/filter/?repno=0324103F (Webseite)Accessed 1 times.