Das Projekt "Alternatives Silicium für Solarzellen (ASIS), Strukturelle Defekte - Teilprojekt 8B" wird/wurde gefördert durch: Bundesministerium für Umwelt, Naturschutz und Reaktorsicherheit. Es wird/wurde ausgeführt durch: Universität Erlangen-Nürnberg, Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung.Ziel der Forschungstätigkeiten an unserem Lehrstuhl ist es, den im Verbundprojekt beteiligten Materialherstellern und -prozessierern, basierend auf unseren wissenschaftlichen Erkenntnissen, Hinweise und Vorschläge zu liefern, die geeignet sind, eine verbesserte Materialstruktur und damit bessere Solarzellen (höherer Wirkungsgrad, verbesserte Prozessierung) zu erzielen. Die Materialien charakterisieren wir mit einer Kombination von Untersuchungsmethoden; die wichtigsten sind: 1.) Mikro-Raman-Spektroskopie: Diese Methode erlaubt uns, mechanische Spannungen und die Kristallitorientierungen in Solarmaterialien zerstörungsfrei und lokal aufgelöst (bis ca. 1 my) zu messen. Damit erhalten wir Informationen über Textur und insbesondere innere Spannungen und deren Quellen. Die zugrunde liegenden Defektstrukturen werden korrelierend analysiert und ergeben Hinweise auf Rissbildung in Solarmaterialien. Hierzu nutzen wir Methoden der: 2.) Durchstrahlungselektronenmikroskopie (TEM). Diese ermöglichen, die Struktur von Materialdefekten bis in atomare Dimensionen aufzuklären (siehe Abb. 2). Wir können somit den Einfluss von Defekten auf die lokalen Material- und Solarzellenparameter untersuchen. Zur Aufklärung der chemischen Natur von Defekten bzw. Verunreinigungen stehen uns verschiedene spektroskopische Methoden im TEM zur Verfügung: Röntgenspektroskopie (EDS), parallele Elektronenenergieverlustspektroskopie (PEELS). Außerdem besteht die Möglichkeit, Messungen im TEM mittels Elektronenstrahl induzierten Strom (EBIC) durchzuführen.