Bei den mittlerweile erreichten Korngroessen von multikristallinem Material fuer Solarzellen haben die Defekte innerhalb der Koerner eine entscheidende Bedeutung fuer den Zellenwirkungsgrad. Es gibt deutliche Anhaltspunkte dafuer, dass insbesondere die Intragrain-Versetzungen die Zelleneffizienz signifikant reduzieren. Eine vertiefte Klaerung der Rolle der Versetzungen ist deshalb von groesstem praktischen Interesse. Im hier vorgeschlagenen Teilprojekt sind detaillierte Untersuchungen der Rekombinationseigenschaften von Intragrain-Versetzungen unterschiedlichen Zustandes beabsichtigt. Aus Gruenden der praktischen Relevanz soll dabei eine Charakterisierung der Versetzungseigenschaften unter solchen Bedingungen erfolgen, die denen im Solarzellenbetrieb entsprechen. Mit den Fortfuehrungsarbeiten sollen die Grundlagen der Wasserstoffpassivierung von relevanten Defekten in mc-Silicium erforscht werden. Dazu sind auch Experimente zur thermischen Stabilitaet der Defektpassivierung und zur Abhaengigkeit des Passivierungsverhaltens von vorhergehenden thermischen Prozessen vorgesehen. Als Ergebnis der beabsichtigten Untersuchungen werden wichtige Aussagen ueber die Wirkung von Versetzugnen erwartet; dabei insbesondere Erkenntnisse darueber, wie durch eine gezielte Beeinflussung ihrer Eigenschaften eine signifikante Steigerung der Zelleneffizienz zu erreichen ist. Ausgehend von den Ergebnissen der Laborexperimente werden Vorschlaege fuer Passivierungsbehandlungen im Zellprozess erarbeitet.
SiGe-Legierungen gelten als moegliches Halbleitermaterial fuer Solarzellen mit verbessertem Wirkungsgrad. Aus Kostengruenden wird fuer photovoltaische Anwendungen haeufig defektreiches, multikristallines Material eingesetzt, so dass Kenntnisse zum Verhalten der Defekte von grossen Interesse sind. Ziel des Teilvorhabens war es daher, zu einem besseren Verstaendnis der Rekombinationseigenschaften von Defekten (SiGe und Si im Vergleich) beizutragen. Entwicklung und Testung von Methoden zur raeumlich aufgeloesten Materialcharakterisierung waren ebenfalls Gegenstand der Arbeiten. Es wurde nachgewiesen, dass metallische Kontamination von Defekten, insbesondere die Bildung von Metallsilicidausscheidungen, ein entscheidender Faktor fuer niedrige Lebensdauern ist. Die erzielten Ergebnisse lassen erwarten, dass sich kristallografische Defekte in SiGe mit Ge kleiner 10 Prozent aehnlich wie Defekte in Si verhalten, so dass Erfahrungen aus dem Si-Bereich auch fuer SiGe nutzbar sind.